Signature mark | NL 174/4208 |
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Subject | Glasplatte, Positiv |
Title | Projektilaufnahme mit dem Interferenzrefractometer |
Note | 4 Aufnahmen; ungerahmt, unbeschriftet |
Date | o.D. |
Formal information |
Format (HxB):
11,9x8,9 cm |
Rights notice | CC BY-SA 4.0 |