Signature mark | NL 174/4209 |
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Subject | Glasplatte, Negativ |
Title | Projektilaufnahme mit dem Interferenzrefractometer |
Note | 2 Aufnahmen; ungerahmt, unbeschriftet; beiliegender Zettel im Karton: "1 Aufnahme xyz m. Kopfwelle Nr 415 entnommen 28.3.62 M" |
Date | o.D. |
Formal information |
Format (HxB):
11,9x8,9 cm |
Rights notice | CC BY-SA 4.0 |